设某种型号的电子管的寿命(设某种型号的电子管的寿命近似的服从N)

设某种型号的电子管的寿命近似的服从N

0.95?

某型号电子管,其寿命(以小时计)为一随机变量

通常电子管设计使用寿命不低于1000小时，这是一个非常保守的数字。电子管的寿命与使用条件关系重大。有些烧友为了追求大功率、大动态将电子管超压使用、屏耗几乎达到极限，这样的电子管寿命就会大大降低。如果按手册给出的数据使用、5000小时以上也不会严重老化的。

某型号电子管,其寿命(以小时计)为一随机变量,概率密度

楼上的是正解，只是没把计算过程写出来而已

一个晶体管寿命大于1500h的概率:p=∫（从1500到无穷）f(x)dx这里f(x)=1000/x^2

∫dx/x^2=-1/x

因此p=2/3，则寿命小于1500h的概率为1/3

从这批晶体管中任选5只，则至少有2只寿命大于1500h的概率=1-都小于1500h的概率-只有一只大于1500h的概率=1-（1/3）的五次方-5选1×（1/3）的四次方×2/3=1-11/243=232/243

设某种型号的电子管的寿命是多少年

(1600-1200)/σ=F^(-1)(0.96)=1.75,其中F是标准正态分布的累积分布函数==>σ=228.57希望对你有帮助,望采纳,谢谢~

设某类电子管的寿命具有密度函数,150小时内

对密度函数0.0002e^(-0.0002x)从3000到无穷大做积分，或用分布函数F(x)=1-e^(-0.0002x),P(X>3000)=1-F(3000)=e^(-0.6)

设某种型号的电子管的寿命(以小时计)

1 845电子管从内在品质上来讲845L正常情况下是能够绝对保障2000小时的使用寿命。

2 845电子管的钍钨灯丝从原理上来讲不可能与氧化物阴极相比的。正常使用的话,保障两年以上是没问题的。

3 当然,这种做法将会大大降低电子管的寿命,因此一定要注意SuperTNT和曙光所标注的额定功率。

某型号电子管,其寿命

大名在外的管子，也是以上所有管子里面声音最最素质的，听起来石机味儿十足，我尝试用在TA-20上的时候声音和TESLA802S极为类似，味道那叫一个淡啊，感觉JJ的802S就是德根802S的阉割再阉割版本。全频段衔接非常流畅，味道也比TESLA润一点点。

如果单看素质的话，德根802S毫无疑问的是踩在我这里所有12AU7脑袋上蹦迪的存在，TA-20装上这玩意妥妥的就是一台石机的声音，速度又快又直白，就算是换到OPA-3A上也是这个味道，但是OPA3A上首先出*，原因反而是因为OPA-3A的声音素质本身就很高，更换802S之后声音太过素净平衡，素质奇高但感情反而有些缺失。无论驱动头版HD800还是HE1000V2都有一种充满细节的波澜不惊，如同一个掌控全部的女神一般面无表情的告诉你全部。这和我理解中的胆机完全不一样，不暖不厚一丢丢的甜这石机也做得到。然而并不是管子不好，只是我理解不了。不过话又说回来，我的前辈们经常说胆机做到一定程度声音确实可以像石机一样，也不能都说人家802S不好，加上我的耳机确实都偏薄，比如800、009这些，如果再薄下去确实未必好声，不喜欢也是常事。所以一开始的时候香猪判断其实是对的，我确实更喜欢吹喇叭，而并非802S的声音，盲目追星确实有点浪费钱呢~

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某型号电子管 其寿命

某种装置中有两个相互独立工作的电子元件，其中一个电子元件的使用寿命X（单位小时）服从参数1/1000的指数分布，另一个电子元件的使用寿命Y（单位小时）服从参数1/2000的指数分布，试求1（X,Y）的概率密度.2.E(X),E(Y)3，两个电子元件的使用寿命均大于1200小时的概率。

原件服从指数分布设参数为λ，则du其概率密度函数为f(x)=λe^(-x)分布函数为F(x)=1-e^(-λx)

其均值EX=1/λ=1000

于是参数λ=1/1000=0.001

某个原件使用在1000小时内损坏的概率即

P(X≤1000)

=F(1000)-F(0)

=1-e^(-0.001×1000)-(1-e^0)

=1-1/e

第二步求3个原件至少损坏1个的概率

3个原件相当于做了3次贝努力试验，n=3

每次损坏的概率为1-1/ep=1-1/e

至少损坏一个不容易求，转求逆事件--没有损坏k=0

于是3个原件都没损坏的概率

P(X=0)=p^k×q^(n-k)=p^0×(1-p)³=1×(1-(1-1/e))³=1/e³

于是所求3个原件至少损坏1个的概率

P(X≥1)=1-P(X=0)=1-1/e³

扩展资料：

在电子元器件的可靠性研究中，通常用于描述对发生的缺陷数或系统故障数的测量结果。这种分布表现为均值越小，分布偏斜的越厉害。

指数分布应用广泛，在日本的工业标准和美国军用标准中，半导体器件的抽验方案都是采用指数分布。此外，指数分布还用来描述大型复杂系统（如计算机）的平均故障间隔时间MTBF的失效分布。

但是，由于指数分布具有缺乏“记忆”的特性．因而限制了它在机械可靠性研究中的应用，所谓缺乏“记忆”，是指某种产品或零件经过一段时间t0的工作后,仍然如同新的产品一样，不影响以后的工作寿命值，或者说，经过一段时间t0的工作之后，该产品的寿命分布与原来还未工作时的寿命分布相同。

参考资料来源：百度百科-指数分布

设某种电子管使用寿命的密度函数

某种装置中有两个相互独立工作的电子元件，其中一个电子元件的使用寿命X（单位小时）服从参数1/1000的指数分布，另一个电子元件的使用寿命Y（单位小时）服从参数1/2000的指数分布，试求1（X,Y）的概率密度.2.E(X),E(Y)3，两个斗燃电子元件的使用寿命均大于1200小时的概率。原件服从指数分布设参数为λ，则du其概率密度函数为f(x)=λe^(-x)分布函数为F(x)=1-e^(-λx)其均值EX=1/λ=1000于是参数λ=1/1000=0.001某个原件使用在1000小时内损坏的概率即P(X≤1000)=F(1000)-F(0)=1-e^(-0.001×1000)-(1-e^0)=1-1/e第二步求3个原件至少损坏1个的概率3个原件相当于做了3次贝努力试验，空州虚n=3每次损坏的概率为1-1/ep=1-1/e至少损坏一个不容易求，转求逆事件--没有损坏k=0于是3个原件都没损坏的概率P(X=0)=p^k×q^(n-k)=p^0×(1-p)³=1×(1-(1-1/e))³=1/e³于是所求3个原件至少损坏1个的概率P(X≥1)=1-P(X=0)=1-1/e³扩展资料：在电子元器件的可靠性研究中，通常用于描述对发生的缺陷数或系统故障数的测量结果。这种分布表现为均值越小，分布偏斜的越厉害迹则。指数分布应用广泛，在日本的工业标准和美国军用标准中，半导体器件的抽验方案都是采用指数分布。此外，指数分布还用来描述大型复杂系统（如计算机）的平均故障间隔时间MTBF的失效分布。但是，由于指数分布具有缺乏“记忆”的特性．因而限制了它在机械可靠性研究中的应用，所谓缺乏“记忆”，是指某种产品或零件经过一段时间t0的工作后,仍然如同新的产品一样，不影响以后的工作寿命值，或者说，经过一段时间t0的工作之后，该产品的寿命分布与原来还未工作时的寿命分布相同。参考资料来源：百度百科-指数分布