像质计型号(像质计型号选择图表)

像质计型号和参照厚度

国标像质计型号和参照厚度:技术要求1.1像质计由不同直径的金属线组成,线的直径按R’10、R’20两类化整值系列选取,线直径及其允许偏差和线编号列表于1。2.标志及代号2.1像质计应具有下列标志:像质计标准编号--GB5816-85线材代号--FE;CU;AL等*粗线与*细线的编号--R3.像质计的适用材料范围及影像质量表示方法3.1

像质计型号丝号47013

像质计（像质指示器，透度计）是测定射线照片的射线照相灵敏度的器件，根据在底片上显示的像质计的影像，可以判断底片影像的质量，并可评定透照技术、胶片暗室处理情况、缺陷检验能力等。目前，最广泛使用的像质计主要是三种：丝型像质计、阶梯孔型像质计、平板孔型像质计，此外还有槽型像质计和双丝像质计等。像质计应用与被检验工件相同或对射线吸收性能相似的材料制做。

像质计型号丝号对照表

3号像质计

像质计型号怎么选择

像质计是一种用于检测物体表面缺陷的仪器，其型号分类如下：磁粉像质计：利用磁粉在物体表面形成磁痕的原理，适用于检测铁磁性材料的表面缺陷。涡流像质计：利用交变磁场在导体中产生涡流效应的原理，适用于检测导电材料的表面缺陷。超声波像质计：利用超声波在物体中传播的原理，适用于检测物体内部的缺陷。射线像质计：利用射线在物体中穿透的原理，适用于检测物体内部的缺陷。激光像质计：利用激光在物体表面扫描的原理，适用于检测物体表面的缺陷。视频像质计：利用光学成像的原理，适用于检测物体表面的缺陷。电容像质计：利用电容原理，适用于检测物体表面的缺陷。霍尔像质计：利用霍尔效应原理，适用于检测导体材料中的缺陷。光纤像质计：利用光纤传输光信号的原理，适用于检测物体表面的缺陷。其他特殊像质计：如热像质计、红外像质计等，适用于特殊场合的检测。不同型号的像质计各有其特点和应用范围，用户可以根据实际需求选择合适的型号。

像质计型号对照表

无损检测像质计型号主要分为两种：X射线像质计和γ射线像质计。X射线像质计主要用于检测金属材料的内部缺陷，如焊缝、裂纹等，具有高分辨率和高灵敏度的特点；γ射线像质计则主要用于检测混凝土、岩石等非金属材料的内部缺陷，如空洞、裂缝等，具有穿透力强、检测范围广的特点。根据不同的应用场景和检测对象，选择合适的像质计型号可以提高检测效率和准确性。

像质计型号fe-iii

36mm的钢板单壁单影，像质计置于源侧，应看到9#丝，所以应选用2#像质计，就是Fe6-12的。

像质计型号和丝号

平板孔型像质计应选用与被透照材料相同组别或级别的材料制作，也可选用比被透照材料射线吸收性能低的组别或级别的材料制作。

第三类：槽型（点击上图了解）

设置和使用通用测试楔形件-有两种版本：不锈钢和铝，选择的应基在实际应用中使用的最严格的材料。

这里小翼同学，表示有没有更加典型的，这个更多的想试块一样！有更好的请给小翼同学留言指正！

像质计怎样用

不管使用何种类型麼的像质计，像质计的摆放位置会直接影响像质计灵敏度的指示值。

因此，在摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内显示灵敏度较低部位，如离胶片远的工件表面，透照厚度较大部位。若不利部位能达到规定的灵敏度，一般认为有利部位就更能达到。

在一些特殊情况下，像质计无法放在射源侧的表面，此时应做对比试验。

其方法是：做一个与被检工件材质、直径、壁厚相同的短试样，在被检部位内外表面各放一个像质计，胶片侧像质计上，应加放“F"标记，然后采用与工件相同的透照条件透照。

在所得底片上，以射源侧向质计所达到的规定橡质指数或相对灵敏度来确定胶片一侧悚质计所应达到的相应橡质指数或相对灵敏度。

在双壁单影法像质计放在胶片侧时，像质计要加放“F”以表示像质计摆放位置是在胶片侧。

平板孔型像质计的摆放，要求放在离被检焊缝边缘5mm以上的母材表面，且像质计下应放置一定厚度的垫片，垫片厚度大致等于被检焊缝的总余高，其目的是使得受检区域的黑度不低于像质计黑度范围的15%，垫片的尺寸应超过像质计的尺寸，使得至少有3条像质指示器轮廊线可在照片上看淸楚。

像质计这些错误你犯过没？

从新手过来的无损检测人，常见的像质计错误使用情况都有哪些？

选型错误

在进行钢铁材料的射线检测时，没有用铁质的像质汁，常常错误的使用铝质的像质计；针对不同的厚度，选用不同的像质计，应该用6-13型号的，错误用成1-6#的像质计；标准用错，比如应该用NB/T47013内规定喷号的，错用ASME型号的像质计。以及在像质计上打上不符合标准的标记。

摆放错误

这是检测人员最容易犯错的地方，也适在检测过程中最容易忽略的地方。

将像质计摆放在底片中间(非管类)，准确的方法是放在底片1/4处的地方或灵敏度较低的位置。

将像质计的粗细钢丝放置颠倒也是初学者常常会犯的错误，像质计的粗钢丝应该放在胶片的内侧，细钢丝放置在胶片的外侧,而不是相反。

将像质计放在胶片侧,这也是现场检测中图方便常常的错误做法。

根据标准要求,大部分的像质计都应该摆放在源侧，只有少部分特殊情况将像质计摆放在胶片侧，比如双壁单影投射。

当像质计放置在胶片侧时,应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记，F标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，并在检测报告中注明。

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像质计型号选择

像质计型号丝号6到12的意思是36mm的钢板单壁单影，像质计置于源侧，应看到9#丝，所以应选用2#像质计，就是Fe6-12的。

像质计型号丝号6到12什么意思

数字射线检测(CR)时需要采用双线型像质计测量图像空间分辨率，然而，你发现了吗？

——双线型像质计的摆放方向对图像空间分辨率影响很大！

例如：壁厚为22mm钢板的单壁透照(AB级技术等级)时，双丝垂直于焊缝摆放可识别线号为D5，双丝平行于焊缝摆放时可识别线号D9，根据标准NB/T47013.14-2016《承压设备无损检测第14部分：计算机辅助成像射线检测对空间分辨率的要求》应识别线号为D8，经过多次试验发现双丝垂直焊缝摆放时不能满足标准要求，只有双丝平行焊缝摆放时才能满足要求。

经过查询相关资料，ASMEV(2013版)《锅炉及压力容器规范》第二章附录Ⅱ-286规定“当使用线型像质指示器时，射线透视检验系统可能呈现不对称灵敏度，因此，线径轴线应对准系统最低灵敏度的轴线。”

IX-221.2条规定“当使用线型像质计时，放置两个线径轴成90°的像质计对系统进行不对称灵敏度评价，如果系统显示不对称灵敏度，线径轴应沿产生射线照相的最小灵敏度的系统轴线方向”。

联系前后文，ASMEV标准中说的是单丝像质计的对比灵敏度变化，也没有说明不对称灵敏度的原因。

经过认真分析，研究人员们认为上述问题的产生原因可能是所采用的射线机有效焦点形状不同，一个不对称的有效焦点在水平和垂直两个方向上的几何不清晰度不同，对单丝像质计细丝的本影灰度造成了影响。不清晰度大的本影灰度下降多，更难以发现；不清晰度小的细丝本影灰度大，容易发现；从而造成了两个方向的对比灵敏度不相同。双线型像质计的目的是测量空间分辨率，也就是图像的不清晰度，像质计放置方向对图像不清晰度的影响要远大于其对对比灵敏度的影响。到底是不是这个原因呢？请大家接下来一起看详细分解。

射线机焦点的形状

射线机的有效焦点形状有正方形､长方形､圆形和椭圆形等，以国产XXG2505定向射线机为例，其焦点形状为正方形，有效焦点尺寸(长×宽)为2.0mm×2.0mm，定向射线机内部结构和焦点尺寸如下图所示。

图1定向射线机内部结构和焦点尺寸

周向射线机XXHz2505是锥形阳极靶，从阴极方向看过去的焦点形状是一个有一定宽度的环，因此厂家给出的焦点尺寸是环外径和环的宽度，如ϕ5mm×0.8mm，国外设备常这样表示，而国产设备常简化表示为矩形，如1.0mm×2.5mm，周向射线机内部结构和焦点尺寸如下图所示，周向射线机XXHz2505有效焦点尺寸为1.0mm×3.5mm。

图2周向射线机内部结构和焦点尺寸

不清晰度分析

检测的总不清晰度U与几何不清晰度Ug和探测器固有不清晰度UD的关系为：

在相同的条件下，探测器固有不清晰度UD是固定不变的，只存在几何不清晰度Ug的变化，因此为了定性分析，可忽略系统的固有不清晰度UD，空间分辨率R和不清晰度U之间为倒数关系，可知当几何不清晰度Ug改变时，图像空间分辨率R将随之呈倒数关系变化。

定向射线机最大几何不清晰度为：

式中：Ug1max为周向最大几何不清晰度；Ug2max为轴向最大几何不清晰度；L1为焦点到工件射线源侧表面的距离；L2为工件射线源侧表面到探测器间的距离。

周向射线机最大几何不清晰度为：

可见，定向射线机正方形焦点所测量的几何不清晰度是对称的；而周向射线机焦点的这种不对称形状，使轴向与周向两个方向呈现不同的几何不清晰度，其周向与轴向几何不清晰度之比等于焦点在对应方向的尺寸之比。

当双线型像质计的丝垂直焊缝时(像质计顺焊缝摆放)，因为周向射线机的周向几何不清晰度大，所以双线型像质计测量的空间分辨率降低；反之，当双丝平行于焊缝时(像质计垂直焊缝摆放)，得到的空间分辨率又高于前者。

图3长方形焦点导致的几何不清晰度变化示意

试验过程

试验工件为ϕ1219mm×18.4mm(外径×壁厚)，试验使用两台X射线机，分别为定向X射线机，型号为XXG2505，周向X射线机型号为XXHz2505，曝光参数均为180kV，5mA，焦距为609mm，单壁单影(中心)曝光。CR激光扫描仪为德尔CR-35，成像板为CarestreamINDUSTREXFlexHR型全新板，扫描步进为50μm，其他参数采用系统默认。

曝光量应保证母材处数字图像灰度约50%，NB/T47013.14-2016标准要求的空间分辨率应识别线号为D8，对比灵敏度应识别线号为W11。将两只单丝型及两只双线型像质计贴在管道内壁射线源侧，像质计摆放位置示意如图4所示。

图4像质计摆放位置示意

为防止背散射，在成像板背部贴厚2mm的铅板，透照布置示意如图5所示。

图5透照布置示意

分别用定向射线机和周向射线机拍摄，图6为定向射线机透照影像，透照参数为180kV，30s。

图6定向射线机透照影像

图7为周向射线机透照影像，透照参数为180kV，84s。

图7周向射线机透照影像

实际照相中两种射线机可识别的线号如下：

对于普通单丝型像质计，可以通过表1中的数据看出，两个方向的测量值均为W11，说明定向射线机在两个方向上的对比灵敏度是相同的。试验中的周向射线机两个方向的测量值也是相同的，均为W11，没有发现不对称对比灵敏度的问题。

对于双线型像质计，定向射线机测量的两个空间分辨率分别是D8和D9，证明定向射线机所测量的空间分辨率方向性不强；而周向射线机两个方向的测量值分别是D5和D9，几乎相差一倍。这表明周向射线机的不对称焦点形状导致了不对称的空间分辨率测量值，证实了前文的分析。

结论

在常规胶片照相过程中，采用定向射线机及单丝像质计测量对比灵敏度时，周向及轴向几何不清晰度不同的问题不明显，但管道检测爬行器采用锥靶周向射线机，其使用单丝像质计，丝轴线垂直于焊缝，像质计灵敏度是低于丝轴线平行于焊缝的，完全符合ASMEV标准的“低灵敏度方向布置”要求。但是在数字射线照相中，需要使用双丝型像质计测量图像空间分辨率，通过试验可知，这种由于非对称焦点形状带来的影响不容忽视，双线型像质计的摆放方向值得重视。

2

标准NB/T47013.14-2016中5.12.3条规定：测定数字图像分辨率时，双线型像质计应放在被检工件的源侧表面，且“b”值较大部位。附录B中数字图像分辨率测试条件中规定“双线型像质计放在被检工件源侧表面，透照条件与实际检测条件一致”，只是规定了双线型像质计应该放在哪的问题，没有规定放置方向的问题。

3

根据分析及试验结果，笔者认为标准应更加明确地规定双线型像质计的摆放方法，如直接规定双丝应平行焊缝放置，或者对于不同的摆放方向规定不同的图像空间分辨率。

4

因为不清晰度与焦点尺寸等有关，即与贴在射线源侧或工件侧有关，贴在工件侧时，上述影响较小。试验中双线型像质计贴于射线源侧，使用的是国产普通周向及定向射线机，不能代表全部实际情况。

作者：张宏亮，高级工程师，在廊坊北检无损检测有限公司主要从事射线管道爬行器、爬行器非放射性传感器及定位控制技术等科研工作。

来源：《无损检测》2019年1期

像质计型号选择图表

ASME是美国机械工程师协会的缩写，是全球最具影响力的机械工程师组织之一。ASME出版了一系列的标准，其中包括了像质计型号和参照厚度等。下面我来详细解答这两个问题。像质计型号是指ASME规定的检验设备型号，用来检测管道和容器中的缺陷。ASME规定的像质计型号包括I型、II型、III型和IV型。这些型号分别适用于不同类型的检测任务。I型适用于检测表面裂纹和瘤状缺陷，II型适用于检测管道和容器的壁厚，III型适用于检测管道和容器的内部缺陷，IV型适用于检测腐蚀和磨损等表面缺陷。参照厚度是指ASME规定的管道和容器的最小壁厚值。这个值是根据ASME规定的设计条件和材料强度等参数计算出来的。在设计和制造管道和容器时，必须保证其壁厚不小于参照厚度，以确保其具有足够的强度和安全性。总之，像质计型号和参照厚度都是ASME规定的重要参数，对于管道和容器的设计和制造具有重要意义。在实际工程中，必须遵守ASME规定的标准，以确保管道和容器具有足够的强度和安全性。